SIGLENT、多機能な SDG3000X 任意波形発生器を発売、半導体テストを強化

リリース時間： 2025-09-25

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2025 年 9月 25 日 — SIGLENT は次世代の SDG3000X シリーズ任意波形発生器を発売しました。

高速通信からパワー半導体評価まで、現代の電子計測における高度な要求に応えるため、SIGLENTはSDG3000Xシリーズ任意波形ジェネレータを開発しました。本シリーズは、高サンプリングレート、大容量メモリ、EasyPulseやTrueArbなどの先進技術を組み合わせ、高精度で低ジッタ、複雑な信号生成を実現。多様性と高性能を兼ね備えた設計で、複雑化するテスト環境における、より高度で柔軟な計測器のニーズに対応します。

2025 年 9月 25 日 — SIGLENT は次世代の SDG3000X シリーズ任意波形発生器を発売しました。高忠実度と高精度の信号生成を実現するよう設計された SDG3000X シリーズは、最大 200MHz の出力周波数、チャネルあたり 40Mpts の任意波形長、16 ビットの垂直分解能、および最大 1.2GSa/s のサンプリングレートを提供します。7 インチの静電容量式タッチスクリーン、直感的なインターフェース、および堅牢な信号生成能力を備えた SDG3000X は、通信、半導体、新エネルギー技術、学術研究などの用途に最適です。

高忠実度信号生成と高精度パルス出力

SDG3000Xは、EasyPulseおよびTrueArb技術を採用し、従来のDDS（直接デジタルシンセシス）方式の波形生成の限界を大幅に改善する、信号生成精度の新たな基準を確立しました。
EasyPulseはパルス信号生成に最適化されています。8 nsという極狭パルスを、周波数変動に関わらず安定した高速立ち上がり/立ち下がりエッジで生成可能です。エッジのタイミングやパルス幅の広範囲できめ細かな調整が可能で、高精度パルス信号生成に理想的なツールです。

TrueArb は 10mSa/s から 600MSa/s のサンプリング範囲で点単位の波形生成を実現し、波形の完全性を維持しながら超低ジッタ（最小 150ps）と 0.075% 以下の全高調波歪み（THD）を実現し、優れた信号忠実度を確保します。

高度な任意波形と複雑信号生成

196 種類の内蔵任意波形とチャネルあたり最大 40Mpts のメモリ深度を備えた SDG3000X は、複雑な信号を保存して正確に再現する能力を提供します。また、柔軟なシーケンスモードを搭載しており、ユーザーは各波形セグメントの再生順序とループ回数を定義できるため、カスタムテストや反復テストシナリオに最適です。

120 MbpsまでのPRBS信号出力、250～50 MSymb/sのシンボルレートに対応したベースバンドおよびIF IQ信号生成、AM、DSB-SC、FM、PM、FSK、ASK、PSK、PWMなど広範な変調方式をサポート。内蔵のスイープおよびバーストモードにより、教育・研究開発から産業用パワーデバイス試験まで、多様なテスト環境を広範にサポートします。

パワー半導体向けダブルパルステスト

ダブルパルステストは、IGBTやSiC MOSFETなどのパワー半導体デバイスの動的特性、特にスイッチング損失や導通特性を評価する上で極めて重要です。SDG3000Xは、この応用に理想的なプラットフォームを提供します。
チャネルトラッキングと位相同期により、ユーザーは現実的なスイッチング動作を模擬するためにパルス幅とタイミング間隔を精密に制御できます。USB/LAN を介したリモート制御やオシロスコープとの同期機能と組み合わせることで、SDG3000X は自動テストシステムの構築を簡素化し、テスト効率とデータ信頼性を向上させます。

インテリジェントなユーザーエクスペリエンス

7 インチのタッチスクリーンを搭載した SDG3000X は、直感的なパラメータ設定と信号表示を可能にします。MATLAB および Python スクリプトのインポートとオシロスコープ連携による自動校正をサポートしています。内蔵の高精度周波数カウンタに加え、LAN、USB、GPIB などの複数の通信インターフェースと内蔵 Web サーバにより、簡単なリモートアクセスと複数デバイス間の同期を実現し、ワークフローを効率化して生産性を向上させます。

結論

SDG3000X シリーズの発売により、SIGLENT はより完全で高性能な信号生成ソリューションを提供します。高忠実度、EasyPulse や TrueArb などの先進技術、多用途性、およびユーザーフレンドリーなインターフェースを融合した SDG3000X は、通信、半導体製造、再生可能エネルギー、教育などの分野における現代的なテスト環境の複雑な要件に応えるよう設計されています。

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