シグレント、8チャネル 1 GHz バンド幅の高解像度オシロスコープを発表

リリース時間： 2025-06-20

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自動車や再生可能エネルギー、産業オートメーションなどの分野における急速な技術革新は、パワーエレクトロニクス技術の進展によって推進されています。高効率インバータ、ワイドバンドギャップ半導体への移行、高度に統合された制御ループなどにより、従来の計測機器の限界が試されています。システムがよりコンパクトかつ高性能になるにつれ、エンジニアは複数のドメインにまたがる多数の信号を高い精度で観察し、相関を把握する必要があります。シンプルな作業を前提として設計された旧世代のオシロスコープでは、こうした新時代の要求に応えきれなくなってきています。今日の開発現場では、多チャネル対応でありながら深く詳細な洞察を提供し、高い信号忠実度とアプリケーション特化型の解析機能を持つ計測器が求められています。

2025年6月20日：シグレント（SIGLENT）は、高性能12ビットオシロスコープシリーズに新たなモデルを追加しました。それがSDS5000X HDおよびSDS5000Lシリーズです。これらの新製品は最大8チャネルを備え、帯域幅は最大1 GHzまで対応しており、シグレントの多チャネルプラットフォーム戦略において重要な一歩となります。高速サンプリングと深いメモリ構造により、複雑な信号環境に対する信頼性ある洞察を実現します。包括的な解析ツール群と組み合わせることで、SDS5000X HDおよびSDS5000Lシリーズは次世代のパワーエレクトロニクス、組み込みシステム、自動テストアプリケーションの進化するニーズに対応します。

拡張性と柔軟性のあるソリューション

SDS5000X HDモデルには大型で直感的な操作性を誇るタッチスクリーンを搭載しており、ラボでの作業やインタラクティブなデバッグに最適です。一方、SDS5000Lシリーズはラックマウント型で、ディスプレイ内蔵なしの省スペース設計を採用しつつ、完全なリモート制御機能を備えており、自動テストシステムへの統合に最適化されています。これにより、エンジニアは手作業による研究開発環境から完全自動化された検証環境まで、それぞれのワークフローに合った最適な機材を選択できます。目標は、現代の計測環境の複雑さと共に成長できる強力で拡張可能なソリューションを提供することです。

高要件に対応する先進性能

SDS5000X HDおよびSDS5000Lシリーズは、厳しい計測課題にも対応する性能を持っています。最大5 GSa/sのサンプリングレートにより、非常に高速な信号遷移も高精度で捉えることが可能です。各チャネルは最大500 Mptsのメモリ容量を備え（全チャネル使用時も同様）、高解像度で長時間の波形取得が可能であり、プロトコルシーケンスの解析にも最適です。4チャネルモード時には、1チャネルあたり最大2.5 Gptsのメモリ深度を実現し、長期にわたる詳細な信号解析をサポートします。1 GHz帯域幅において最大8.2 ENOB（有効ビット数）を達成することで、フルバンド幅でも優れたダイナミックレンジと信号精度を確保しています。さらに、1 GHz帯域幅でわずか140 µVrmsという低ノイズフロアも備え、高感度アナログ、電源、混合信号環境における正確なデバッグに不可欠な明確で詳細な信号可視化を実現しています。

多チャネル・アプリケーション特化型解析

8チャネルオシロスコープは、すべての電圧および電流信号に同時に接続することで包括的な三相電力解析を可能にします。この同期取得により、すべてのフェーズにわたるリアルタイムでの波形および主要パラメータの正確な測定が保証されます。エンジニアは直接位相差を観察・比較してアンバランスを検出し、システム全体の性能を検証できます。内蔵FFT機能により、三相システムの詳細な調波解析もサポートします。オプションのアプリケーションソフトウェアにより、モータ診断用ベクトル図の可視化、電力品質評価、リップル測定、システム全体の効率解析など、さまざまな機能も利用可能です。
電力解析に加えて、現代の電子システムではますます多くの集積回路チップやモジュールが使われており、それらの初期化や動作タイミングを慎重に調整しなければなりません。電源立ち上げ時のシーケンステストにより、異なる回路モジュールからの信号が正しいタイミングで動作していることを確認し、システムの安定性を確保し、通信システムにおけるデータ転送エラーなどの問題を防ぎます。回路の複雑さが増すにつれて、電源立ち上げテストの難易度も上昇しています。SDS5000X HDは、すべての関連信号の電源立ち上げプロセス全体を一度の取得でキャプチャするため、測定時間を大幅に短縮し、繰り返しテストに関連する誤差を最小限に抑えます。最大8つの電源レールを含む複雑な設計においても、このワンショット測定機能は信頼性の高い検証手段として活用できます。

SiCおよびGaNパワーエレクトロニクスにおける高精度測定

シグレント最新の8チャネルオシロスコープに加え、新たに光学絶縁差動プローブODP6000Bシリーズを導入したことにより、ワイドバンドギャップ（WBG）半導体のテストにおける重要な空白が埋められました。SDS5000X HDはピコ秒レベルの立ち上がり時間性能を備えており、炭化ケイ素（SiC）および窒化ガリウム（GaN）デバイス特有の高速スイッチング動作を正確に捉えることができます。スイッチング動作中の電圧・電流過渡現象（サージ、リンギング、その他の動的特性）についても詳細に解析可能であり、高効率電源設計における回路性能の最適化と信号整合性の確保に貢献します。これらに加えてODP6000Bプローブは500 MHzおよび1 GHzの帯域幅に対応し、低周波域で160 dBという優れた共通モード除去比（CMRR）を備えており、先進的なWBGデバイス測定に必要な高精度とノイズ耐性をさらに向上させています。

結論

SDS5000X HDおよびSDS5000Lシリーズに加え、光学絶縁プローブODP6000Bをラインアップに揃えたことで、シグレントは現代のパワーエレクトロニクスおよび複雑な組み込みシステムのニーズに応える強力で拡張可能な計測ソリューションを提供します。高いチャネル数、優れた信号忠実度、深いメモリ構造、汎用性のある解析機能を兼ね備え、三相電力解析や電源立ち上げシーケンステスト、ワイドバンドギャップ半導体の高速特性評価といった要求の高いアプリケーションにおいても、正確な洞察を提供します。ラボでの使用から自動テスト環境への統合まで、開発ワークフローにおける効率性、精度、信頼性を向上させるためのツールを、シグレントは提供しています。

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